免费精品国产自产拍在线观看图片,亚洲 欧美 综合 高清 在线,涩里番app黄版网站,影音先锋欧美一区二区,久久久老熟女一区二区三区91,色综合亚洲色综合网站,夜色99视频多人聊天室,玖玖精品国产,胸好大用力深一点,色多多深夜福利免费观看

安全管理網(wǎng)

現(xiàn)行
導航：安全管理網(wǎng)>> 安全標準>> 行業(yè)標準>> 建筑>>正文

半導體拋光液用硅溶膠中雜質(zhì)元素含量的測定 -電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

標 準 號： JC/T 2133-2012
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 中國科學院上海硅酸鹽研究所
發(fā)布日期： 2012-12-28
實施日期： 2013-06-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2018年11月22日
下載地址：點擊這里 2.39MB
下載點數(shù)：20點（VIP會員免費）
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了采用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜（ICP-AES）法測定半導體拋光液用硅溶膠中雜質(zhì)元素含量的方法。
本標準適用于半導體化學機械拋光（CMP）中拋光液用的各種硅溶膠。

下載地址（請點擊下面地址下載）
*本標準來自網(wǎng)友 zhuyeliang 分享，只作為網(wǎng)友的交流學習之用。
網(wǎng)友評論 more
創(chuàng)想安科網(wǎng)站簡介會員服務(wù)廣告服務(wù)業(yè)務(wù)合作提交需求會員中心在線投稿版權(quán)聲明友情鏈接聯(lián)系我們