納米薄膜接觸角測量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 30447-2013

替代情況：

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

起草單位：中國建筑材料科學(xué)研究總院、中國建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司

發(fā)布日期： 2013-12-31

實(shí)施日期： 2014-10-01

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更新日期： 2017年01月21日

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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米薄膜接觸角測量中涉及的術(shù)語、原理、試驗(yàn)設(shè)備、環(huán)境、樣品制備、分析步驟、結(jié)果計(jì)算和試驗(yàn)報(bào)告等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于襯底為表面平整的納米薄膜涂層。

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