本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用X射線衍射儀,在測試中對(duì)樣品進(jìn)行旋轉(zhuǎn),從而確定晶體材料取向的測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體材料取向的測試。
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