本標準規定了倒裝焊集成電路封裝工藝中凸點共面性、凸點剪切力、芯片剪切拉脫力、焊點缺陷、底部填充缺陷等方面相關的物理試驗方法。
本標準適用于陶瓷封裝或塑料封裝的倒裝焊單片集成電路。
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