《半導體器件　集成電路》的本部分適用于作為目錄內電路或定制電路而制造的、其質量是以鑒定批準為基礎評定的膜集成電路和混合膜集成電路。
本部分的目的是為額定值和特性提供優先值，從總規范中選擇合適的試驗和測量方法，并且給出根據本部分制定的膜集成電路和混合膜集成電路詳細規范使用的通用性能要求。
優先值的概念直接應用于目錄內電路，但是不必應用于定制電路。
參照本部分制定的詳細規范所規定的試驗嚴酷等級和要求可等于或高于分規范的性能水平，不準許有更低的性能水平。
同本部分相聯系的有一個或多個空白詳細規范，每個空白詳細規范均給以編號。按照2.3規定填寫空白詳細規范，即構成一個詳細規范。按IECQ體系的規定，該類詳細規范可用于膜集成電路和混合膜集成電路鑒定批準的授與和質量一致性檢驗。