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半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分:快速溫度變化 雙液槽法

標 準 號: GB/T 4937.11-2018
替代情況:
發布單位: 國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 中國電子科技集團公司第十三研究所
發布日期: 2018-09-17
實施日期: 2019-01-01
點 擊 數:
更新日期: 2019年06月05日
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內容摘要

GB/T 4937的本部分規定了快速溫度變化--雙液槽法的試驗方法。當器件鑒定既可以采用空氣?空氣溫度循環又可以采用快速溫度變化--雙液槽法試驗時,優先采用空氣-空氣溫度循環試驗。本試驗也可采用少量循環(5次~10次)的方式來模擬清洗器件的加熱液體對器件的影響。本試驗適用于所有的半導體器件。除非在有關規范中另有說明,本試驗被認為是破壞性的。本試驗與GB/T 2423.22-2002基本一致,但鑒于半導體器件的特殊要求,采用本部分的條款。

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