本文件規(guī)定了非線(xiàn)性光學(xué)晶體元件測(cè)試條件,描述了相應(yīng)的測(cè)試方法,規(guī)定了測(cè)試報(bào)告內(nèi)容的要求。
本文件適用于低溫相偏硼酸鋇(β-BaB2O4,簡(jiǎn)稱(chēng)BBO)、三硼酸鋰(LiB3O5,簡(jiǎn)稱(chēng)LBO)、磷酸二氫鉀(KH2PO4,簡(jiǎn)稱(chēng)KDP)、磷酸鈦氧鉀(KTiOPO4,簡(jiǎn)稱(chēng)KTP)、鈮酸鋰(LiNbO3,簡(jiǎn)稱(chēng)LN)、硫鎵銀(AgGaS2,簡(jiǎn)稱(chēng)AGS)、碘酸鉀(KIO3)的測(cè)量活動(dòng)。其他非線(xiàn)性光學(xué)晶體元件的測(cè)量活動(dòng)參照使用。
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