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薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

標 準 號： GB/T 14620-2013
替代情況： 替代 GB/T 14620-1993
發布單位： 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子技術標準化研究院
發布日期： 2013-11-12
實施日期： 2014-04-15
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更新日期： 2026年02月04日
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內容摘要

本標準規定了薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的要求、測試方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸和貯存。
本標準適用于薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片(以下簡稱“基片”)的生產和采購,采用薄膜工藝的片式元件用氧化鋁陶瓷基片也可參照使用。

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