本文件描述了光學和光子學污染試驗的環(huán)境試驗方法。
注： 本文件中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學物質1)(以下簡稱“試劑”)同光學和光子學儀器的接觸。
本文件適用于有關光學和光子學儀器，包括來自其他領域(如機械、化學和電子設備）的污染試驗。
本文件不適用于作為正常的生產控制。