本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過掃描電子顯微鏡(SEM)檢測金屬試樣橫截面局部厚度的方式測量金屬涂層厚度的方法。它通常是一種破壞性的檢測方式,不確定度小于10%,或者0.1μm。該測量方法也可以用 來測量幾個毫米厚的涂層,但是對于這類厚涂層建議采用光學(xué)顯微鏡法(GB/T6462)進行測量。