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光學(xué)功能薄膜 表觀質(zhì)量的掃描顯微鏡 測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T47631—2026
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 中國(guó)樂凱集團(tuán)有限公司、合肥樂凱科技產(chǎn)業(yè)有限公司、中國(guó)科學(xué)院理化技術(shù)研究 所、寧波激智科技股份有限公司
發(fā)布日期： 2026-05-25
實(shí)施日期： 2026-12-01
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更新日期： 2026年06月18日
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下載點(diǎn)數(shù)：30點(diǎn)（VIP會(huì)員免費(fèi)）
內(nèi)容摘要

本文件描述了通過掃描電子顯微鏡(SEM)、激光掃描共聚焦顯微鏡(CLSM),對(duì)光學(xué)功能薄膜產(chǎn)品表觀質(zhì)量的檢測(cè)方法。
本文件適用于光學(xué)功能薄膜。

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