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顆粒技術(shù) 微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 透射電子顯微鏡法

標 準 號： T/CSP 13-2024 T/BSPT 6-2024
替代情況：
發(fā)布單位： 中國顆粒學會 北京 粉體技術(shù)協(xié)會
起草單位： 國家納米科學中心、國標（北京）檢驗認證有限公司、國合通用測試評價認證股 份公司、北京市科學技術(shù)研究院分析測試研究所
發(fā)布日期： 2024-11-18
實施日期： 2024-11-26
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2026年04月18日
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內(nèi)容摘要

本文件描述了采用透射電子顯微鏡法對微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)樣品的形貌、成分及結(jié)構(gòu)進行測量及分析的方法，包括原理、儀器設(shè)備、樣品制備及步驟。


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